Laser Instruments

SP-ISS

システムの特徴

SP-ISS

最表面のスピン分析

このシステムは今まで困難であった最表面のみを選択的に分析することを可能にしたシステムです。

  • 最表面だけを選択的に検出
  • スピンと構造・組成の複合分析

SP-ISSの知的財産

SP-ISSシステムは既に国内外の特許を取得しています。

  • 外国特許(US, Germany, France):: WO2008/069110
    スピン偏極イオンビーム発生装置及びそのスピン偏極イオンビームを用いた散乱分光装置並びに試料加工装置
  • 特許公開: 2008-135308
    偏極イオンビーム発生方法とその実施に使用する偏極イオンビーム発生装置
  • 特許公開:2009-216387
    磁気構造解析方法とそれに使用するスピン偏極イオン散乱分光装置

SP-ISSの開発

このSP-ISSは、独立行政法人物質・材料研究機構(NIMS)によって開発されました。.

論文

2011

  • T. Suzuki, H. Kuwahara and Y. Yamauch : “Effect of ion beam irradiation on magnetism of Fe(100) outermost surfaces studied by spin-polarized ion scattering spectroscopy” Surf. Sci. 605 (2011) 1197-1201 DOI:10.1016/j.susc.2011.04.001

2010

  • T. Suzuki, H. Kuwahara and Y. Yamauchi : “Element-selective spin polarization analysis of surfaces by spin-polarized ion scattering spectroscopy” Surf. Sci. 604[19-20] (2010) 1767-1771 DOI:10.1016/j.susc.2010.07.002

もっと見る....

Sun Instruments, Inc.サンインスツルメント株式会社

〒141-0031 東京都品川区西五反田2-26-9 五輪プラザビル4F TEL:03-5436-9361 FAX:03-5436-9364 E-mail:sun@sun-ins.com